Câu hỏi:

Quỹ đạo nghiệm số của hệ rời rạc:

A. Không đối xứng

B. Đối xứng qua trục thực

C. Đối xứng qua trục ảo

D. Đối xứng qua góc tọa độ

Câu 1:

Quĩ đạo nghiệm số là:

A. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ -∞  →0

B. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ  0 →+∞

C. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ  -∞  →+∞

D. Tập hợp các zero của hệ thống

Câu 2:

Cho hệ có phương trình đặc trưng \({s^3} + 20{s^2} + 10s + 100 = 0\)

A.  Hệ thống không ổn định, có 3 nghiệm bên phải mặt phẳng phức

B. Hệ thống ổn định, không có nghiệm có phần thực dương

C. Hệ thống không ổn định, có 2 nghiệm bên phải mặt phẳng phức, 1 nghiệm bên trái mặt phẳng phức

D. Hệ thống không ổn định, có 1 nghiệm bên phải mặt phẳng phức, 2 nghiệm bên trái mặt phẳng phức

Câu 3:

Hệ thống liên tục ổn định nếu tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính:

A. Nằm bên phải mặt phẳng phức

B. Nằm trên trục ảo

C. Nằm bên trái mặt phẳng phức

D. Nằm trên trục thực

Câu 4:

Theo định lý Shanon để có thể phục hồi dữ liệu sau khi lấy mẫu mà không bị méo dạng thì:

A. f=2fc

B.  f  ≥ 2fc

C. Tần số lấy mẫu được chọn tuỳ ý

D. f  ≤  2fc

Câu 5:

Chu kỳ lấy mẫu T là:

A. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu

B. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu liên tiếp

C. Khoảng thời gian lấy mẫu

D. Khoảng thời gian ngắn nhất mà tín hiệu lặp lại trạng thái ban đầu

Câu 6:

Quan hệ giữa tín hiệu vào và tín hiệu ra của hệ thống điều khiển rời rạc được mô tả bằng:

A. Phương trình vi phân

B. Phương trình sai phân

C. Phương trình đại số

D. Graph tín hiệu