Câu hỏi:

Chu kỳ lấy mẫu T là:

A. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu

B. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu liên tiếp

C. Khoảng thời gian lấy mẫu

D. Khoảng thời gian ngắn nhất mà tín hiệu lặp lại trạng thái ban đầu

Câu 1:

Tín hiệu vào của bộ chuyển đổi D/A:

A. Tín hiệu liên tục

B. Tín hiệu số

C. Sóng  sin

D. Xung vuông

Câu 2:

Quỹ đạo nghiệm số của hệ rời rạc:

A. Không đối xứng

B. Đối xứng qua trục thực

C. Đối xứng qua trục ảo

D. Đối xứng qua góc tọa độ

Câu 3:

Tần số cắt biên:

A. Là tần số tại đó biên độ của đặc tính tần số bằng 1(hay bằng 0dB)

B. Là tần số tại đó pha của đặc tính tần số bằng -π (hay -1800 ) 

C. Là tần số tại đó có độ dự trữ biên 

D. Là tần số tại đó có đỉnh cộng hưởng

Câu 4:

Khâu vi phân lý tưởng có hàm truyền G(s) = s:

A. M(ω)= ω ;  φ(ω)=90o

B. M(ω)= 20lg(ω) ;  φ(ω)= -90o

C. M(ω)= 1/ω ;  φ(ω)=90o

D. M(ω)= -20lg(ω) ;  φ(ω)= 90o

Câu 5:

Quĩ đạo nghiệm số là:

A. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ -∞  →0

B. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ  0 →+∞

C. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ  -∞  →+∞

D. Tập hợp các zero của hệ thống

Câu 6:

Định nghĩa độ dự trữ ổn định:

A. Khoảng cách từ trục thực đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

B. Khoảng cách từ trục ảo đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

C. Khoảng cách từ trục hoành (ox) đến nghiệm gần nhất (chỉ nghiệm thực) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

D. Khoảng cách từ trục tung (Oy) đến nghiệm cực gần nhất (chỉ nghiệm phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ