Câu hỏi:

Định nghĩa độ dự trữ ổn định:

A. Khoảng cách từ trục thực đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

B. Khoảng cách từ trục ảo đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

C. Khoảng cách từ trục hoành (ox) đến nghiệm gần nhất (chỉ nghiệm thực) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

D. Khoảng cách từ trục tung (Oy) đến nghiệm cực gần nhất (chỉ nghiệm phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

Câu 1:

Tần số cắt biên:

A. Là tần số tại đó biên độ của đặc tính tần số bằng 1(hay bằng 0dB)

B. Là tần số tại đó pha của đặc tính tần số bằng -π (hay -1800 ) 

C. Là tần số tại đó có độ dự trữ biên 

D. Là tần số tại đó có đỉnh cộng hưởng

Câu 2:

Hệ thống có quỹ đạo nghiệm số như hình vẽ:

A. Hệ thống ổn định

B. Hệ thống không ổn định

C. Hệ thống nằm ở biên giới ổn định

D. Hệ thống có 4 nghiệm cực

Câu 3:

Một trong những qui tắc của quĩ đạo nghiệm số:

A. Số nhánh của quĩ đạo nghiệm số  bằng bậc của phương trình đặc tính

B. Số nhánh của quĩ đạo nghiệm số bằng số zero của G0(s)

C. Số nhánh của quĩ đạo nghiệm số bằng số điểm tách nhập của quĩ đạo nghiệm

D. Số nhánh của quĩ đạo nghiệm số bằng hệ số khuếch đại

Câu 4:

Chu kỳ lấy mẫu T là:

A. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu

B. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu liên tiếp

C. Khoảng thời gian lấy mẫu

D. Khoảng thời gian ngắn nhất mà tín hiệu lặp lại trạng thái ban đầu

Câu 5:

Theo định lý Shanon để có thể phục hồi dữ liệu sau khi lấy mẫu mà không bị méo dạng thì:

A. f=2fc

B.  f  ≥ 2fc

C. Tần số lấy mẫu được chọn tuỳ ý

D. f  ≤  2fc

Câu 6:

Cho hệ có phương trình đặc trưng \({s^3} + 20{s^2} + 10s + 100 = 0\)

A.  Hệ thống không ổn định, có 3 nghiệm bên phải mặt phẳng phức

B. Hệ thống ổn định, không có nghiệm có phần thực dương

C. Hệ thống không ổn định, có 2 nghiệm bên phải mặt phẳng phức, 1 nghiệm bên trái mặt phẳng phức

D. Hệ thống không ổn định, có 1 nghiệm bên phải mặt phẳng phức, 2 nghiệm bên trái mặt phẳng phức