Câu hỏi:

Định nghĩa độ dự trữ ổn định:

A. Khoảng cách từ trục thực đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

B. Khoảng cách từ trục ảo đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

C. Khoảng cách từ trục hoành (ox) đến nghiệm gần nhất (chỉ nghiệm thực) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

D. Khoảng cách từ trục tung (Oy) đến nghiệm cực gần nhất (chỉ nghiệm phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

Câu 1:

Chu kỳ lấy mẫu T là:

A. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu

B. Khoảng thời gian giữa 2 lần lấy mẫu liên tiếp

C. Khoảng thời gian lấy mẫu

D. Khoảng thời gian ngắn nhất mà tín hiệu lặp lại trạng thái ban đầu

Câu 2:

Quĩ đạo nghiệm số là:

A. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ -∞  →0

B. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ  0 →+∞

C. Tập hợp tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính của hệ thống khi có một thông số nào đó trong hệ thống thay đổi từ  -∞  →+∞

D. Tập hợp các zero của hệ thống

Câu 3:

Quỹ đạo nghiệm số của hệ rời rạc:

A. Không đối xứng

B. Đối xứng qua trục thực

C. Đối xứng qua trục ảo

D. Đối xứng qua góc tọa độ

Câu 4:

Quan hệ giữa tín hiệu vào và tín hiệu ra của hệ thống điều khiển rời rạc được mô tả bằng:

A. Phương trình vi phân

B. Phương trình sai phân

C. Phương trình đại số

D. Graph tín hiệu

Câu 5:

Hệ thống liên tục ổn định nếu tất cả các nghiệm của phương trình đặc tính:

A. Nằm bên phải mặt phẳng phức

B. Nằm trên trục ảo

C. Nằm bên trái mặt phẳng phức

D. Nằm trên trục thực

Câu 6:

Hệ thống có quỹ đạo nghiệm số như hình vẽ:

A. Hệ thống ổn định

B. Hệ thống không ổn định

C. Hệ thống nằm ở biên giới ổn định

D. Hệ thống có 4 nghiệm cực