Câu hỏi: Một nguồn pin gồm điện cực nikn nhúng trong dung dịch NiSO4 0,2M và điện cực đồng nhúng trong dung dịch CuSO4 0,4M. Biết \({\varphi _{C{u^{2 + }}/Cu}}^0 = + 0,34V\)  và \({\varphi _{Z{n^{2 + }}/Zn}}^0 = - 0,763V\)

A. \(( - )CuS{O_4}(0,4M)|Cu||Zn|ZnS{O_4}(0,2M)( + )\)

B. \(( - )Cu|CuS{O_4}(0,2M)||ZnS{O_4}(0,4M)|Zn( + )\)

C. \(( - )Zn|ZnS{O_4}(0,2M)||CuS{O_4}(0,4M)|Cu( + )\)

D. \(( - )ZnS{O_4}(0,2M)|Zn||Cu|CuS{O_4}(0,4M)( + )\)

Câu 1: Khi đặt hệ keo ở câu 61 vào 1 điện trường thì lớp khuếch tán sẽ di chuyển vào cực nào?

A. Âm

B. Dương

C. Không di chuyển 

D. a, b, c đều sai.

Câu 2: Xét pin: Fe/FeSO4//CuSO4/Cu, phản ứng sau: Cu2+ + Fe = Cu + Fe2+ . Phát biểu nào sau đây là đúng?

A. Khối lượng Fe tăng

B. Khối lượng Cu giảm

C. Khối lượng Fe giảm

D. Dòng điện chuyển từ Zn sang Cu

Câu 3: Khi cho K2SO4 và hệ keo ở câu 61 thì ion nào tác dụng gây keo tụ:

A. Ag+

B. K+

C. NO3-

D. SO42-

Câu 4: Phương trình hấp thụ Langmuir chỉ áp dụng cho:

A. Hấp thụ đơn lớp

B. Hấp thụ tỏa nhiệt

C. Hấp thụ đa lớp

D. Tất cả đúng

Câu 5: Độ bền vững của hệ phân tán thường được chia ra làm các loại:

A. Độ bền độ học

B. Độ bền hóa học

C. Độ bền tập hợp

D. a, b đều đúng

Câu 6: Cấu tạo của keo AgI ở câu 61 có dạng:

A. \({{\rm{[}}m(AgI)n.{I^ - }.(n - x){K^ + }{\rm{]}}^{x - }}.x{K^ + }\)

B. \({{\rm{[}}m(AgI)n.{K^ + }.(n + x){I^ - }{\rm{]}}^{x - }}.x{I^ - }\)

C. \({{\rm{[}}m(AgI)n.{K^ + }.(n - x){I^ - }{\rm{]}}^{x - }}.x{I^ - }\)

D. \({{\rm{[}}m(AgI)n.{I^ - }.(n + x){K^ + }{\rm{]}}^{x - }}.x{K^ + }\)