Câu hỏi:

Bộ bù trễ pha được sử dụng khi:

A. Muốn giảm sai số xác lập của hệ thống

B. Muốn tăng sai số xác lập của hệ thống

C. Muốn tăng thời gian đáp ứng quá độ của hệ thống

D. Tín hiệu vào của hệ thống là hàm nấc đơn vị

Câu 1:

Quỹ đạo nghiệm số của hệ rời rạc:

A. Không đối xứng

B. Đối xứng qua trục thực

C. Đối xứng qua trục ảo

D. Đối xứng qua góc tọa độ

Câu 2:

Hệ thống có quỹ đạo nghiệm số như hình vẽ:

A. Hệ thống ổn định

B. Hệ thống không ổn định

C. Hệ thống nằm ở biên giới ổn định

D. Hệ thống có 4 nghiệm cực

Câu 3:

Hàm truyền của hiệu chỉnh tích phân tỉ lệ PI(proportional integral) liên tục có dạng:

A. \({G_C}(s) = {K_p} + {K_I}s\)

B. \({G_C}(s) = {K_p}s + {K_I}\)

C. \({G_C}(s) = {K_p} + \frac{{{K_I}}}{s}\)

D. \({G_C}(s) = {K_p} - {K_I}s\)

Câu 4:

Theo định lý Shanon để có thể phục hồi dữ liệu sau khi lấy mẫu mà không bị méo dạng thì:

A. f=2fc

B.  f  ≥ 2fc

C. Tần số lấy mẫu được chọn tuỳ ý

D. f  ≤  2fc

Câu 5:

Biểu đồ Bode được vẽ trong hệ tọa độ vuông góc, trong đó:

A. Trục hoành được chia tuyến tính

B. Trục hoành được chia theo thang logarith

C. Gồm nhiều nhánh xuất phát từ các cực và tiến đến các zêro hoặc tiến đến vô cùng theo các đường tiệm cận

D. n đọan thẳng

Câu 6:

Định nghĩa độ dự trữ ổn định:

A. Khoảng cách từ trục thực đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

B. Khoảng cách từ trục ảo đến nghiệm cực gần nhất (nghiệm thực hoặc phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

C. Khoảng cách từ trục hoành (ox) đến nghiệm gần nhất (chỉ nghiệm thực) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ

D. Khoảng cách từ trục tung (Oy) đến nghiệm cực gần nhất (chỉ nghiệm phức) được gọi là độ dự trữ ổn định của hệ